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    半导体特性测试仪校准

    • 发表时间:2021-12-27
    • 来源:本站
    • 人气:82

    半导体特性测试仪校准

    别名:semiconductor characterizatioon system

    型号规格4200-SCS

    测量范围:1pA~1A,20mV~200V

    类型:校准

    校准时效:15个工作日

    不确定度:

    收费标准:右侧扫码加客服微信,将相关型号参数等信息发客服微信询价

    收费单位:模块

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