可为二氧化硅膜厚标准片提供校准、检定服务，并出具证书报告，且带有CNAS标志。报告可用于ISO外审、客户验厂、办理各种许可证、内部研发、质量控制等等！

二氧化硅膜厚标准片校准测试

仪器名称：二氧化硅膜厚标准片

检测类型：校准、测试

校准检定范围：（ 0.1nm--1000nm ）

规格型号：、

仪器别名：微纳米薄膜厚度，光学膜厚标准片，微纳薄膜栅格结构样板

收费单位：膜厚

准确度等级：

不确定度：

校准时长：15个工作日

报告有效期：12个月

校准方式：邮寄检测

校准地点：各地